“핵비확산” 검색 결과

NIST News · 양자센싱

NIST 전이모서리센서, 핵물질 X선 측정 불확도 최대 8분의 1로 감소

미국 국립표준기술연구소(NIST) 연구팀이 초전도 기반 양자센서 배열을 이용해 우라늄·플루토늄·넵투늄의 X선 방출 에너지를 기존보다 최대 8분의 1 수준의 불확도로 측정하는 데 성공했다. 해당 연구는 2026년 9월 10일 Physical Review Letters에 게재됐으며, 국제 핵물질 안전조치(safeguards) 이행에 직접 기여할 수 있는 결과로 평가된다.

2026년 9월 10일